W800设计是为了满足客户最大的需求范围。所有工作站都是基本模块化设计，可以方便后期为了新的测量水平扩展模块。工业生产变化很大，计量需求也是如此。
W800测量系统是基于典型的手动或半自动测量过程相关的粗糙度和轮廓测量任务而开发的。
这个系统易于操作，Evovis容易操作并提供各种分析，
系统能在最短的时间内提供最精确的结果。
在不需要使用任何工具的情况下可以快速更换探测系统。探头臂和探头系统都装有磁耦合，使探头臂的交换变得容易。这意味客户可以自由编程满足所有的测量任务。
该系统利用RFID识别技术自动智能识别轮廓探针臂，调整最佳测量条件。这意味着操作误差和不正确的测量可以实际消除。
技术参数：
Waveline W800
驱动箱 XM120 and XM200
直线度 / 120 mm
直线度 / 200 mm
定位重复性精度
X轴分辨率
最大定位速度
最大干扰Rz (0.2 mm/s)
测量高度 ZM500 和 ZM800
定位重复性精度
Max. positioning speed
倾斜角度倾斜角度
细调范围 (选配)
0.4 µm
0.6 µm
<50 µm
0.1 µm 20 mm/s
<50 nm
<50 µm
20 mm/s
± 45°
± 5°
| 测针系统 |
| TKU400 |
| Digiscan |
|
测量任务 |
| Roughness |
| Contour |
|
测量范围/分辨率 (标准测针长度) |
| ± 400 µm/1 nm1) |
| 60 mm/10 nm1) |
|
测量范围/分辨率 (2倍标准测针长度) |
| ± 800 µm/2 nm1) |
| 90 mm/15 nm1) |
|
双头测量 |
| No |
| Optional |
|
测量原理 |
| 模拟 |
| 数字 |
|
测针身份识别 |
| Yes |
| Yes |
|
测针测力设置 |
| Fixed -0.8 mN |
| Electronic |
|
测针臂身份识别 |
| No |
| Yes |
|
测针臂耦合方式 |
| 磁吸 |
| 磁吸 |
|
| 1) 分辨率在整个测量行程 |
|
|
|
|
|
系统配置
系统配置 Description
W800R 粗糙度测量配备 TKU400 测针系统
W800C Digiscan 轮廓测量配备 Digiscan 测针系统
W800RC Digiscan 粗糙度和轮廓测量 配备TKU400 和 Digiscan 测针系统
选配 驱动箱 120 mm or 200 mm
测量高度 500 mm or 800 mm
大理石 700 x 520 mm or 1000 x 520 mm
控制手柄
工业仪器桌/现场测量房
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